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清华大学天津电子信息研究院

单片微波集成电路(MMIC)综合实验室

 

    对于器件建模、技术开发、半导体工艺开发和规范、过程控制、元器件定标和试生产来说,精确和可重复的晶圆级(OnWafer)测量必不可少。半导体技术正在不断发展,产品从设计到上市的速度越来越快,同时对于更高精度的需求也日益增加。面对这些挑战,用户亟需一款综合的解决方案,以快速和精确地对元器件实施先进的直流和射频测量。

    清华大学天津电子信息研究院单片微波集成电路(MMIC)综合实验室配置了行业领先的Cascade Microtech晶圆级探针台、微波和直流偏置探头以及校准工具,并与是德科技KeysightTechnologies的测试仪器、测量和分析软件完美结合,使您可以对所有元器件执行全方位的测量。

 

    每个晶圆级测量解决方案均可享受全方位的支持,清华大学天津电子信息研究院精通晶圆级测试与测量的解决专家将与客户紧密协作优化方案,以满足客户不断提出的测量、表征和建模要求。

 

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